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優(yōu)惠程度:
商品詳情
英飛思科學(xué)儀器RoHS1.0、2.0符合性測(cè)試專家--- EDX 8000B熒光光譜儀
RoHS有害物質(zhì)專用分析儀
主要應(yīng)用于
>RoHS 2.0 / WEEE
>無鹵檢測(cè)
>玩具EN71及消費(fèi)品的有害物質(zhì)檢測(cè)(Pb、Cd、Hg、Cr 、Br、Cl、As、Sb、Se、Ba等)
>94/62/EC包裝指令
?RoHS:有害物質(zhì)限制
>Pb、Cr、Hg、Br、Cd、Cl、As、Ba、Sb
?WEEE:廢棄電子電器設(shè)備
概述
>RoHS 合規(guī)性和消費(fèi)者安全
面向消費(fèi)者/RoHS 的 EDX8000B 是一款方便、快速掃描的 XRF 分析儀,適用于法規(guī)遵從性計(jì)劃,可在幾秒鐘內(nèi)提供準(zhǔn)確的通過/失敗結(jié)果。
EDX8000B 是一款堅(jiān)固且用戶友好的 X 射線熒光 (XRF) 分析儀,針對(duì)消費(fèi)品和 RoHS 法規(guī)遵從性計(jì)劃進(jìn)行了優(yōu)化。 它具有光線充足的超大樣品室、操作簡(jiǎn)便、集成攝像頭和可選擇的分析光斑尺寸。
消費(fèi)品和/或 RoHS 法規(guī)的行動(dòng)級(jí)別已預(yù)先編程,可快速獲得通過/失敗結(jié)果。
>遵守全球法規(guī)
用于監(jiān)管計(jì)劃的 EDX8000B 是一種快速、準(zhǔn)確且具有成本效益的 XRF 分析儀,針對(duì)分析鉛 (Pb)、鎘 (Cd)、砷 (As)、汞 (Hg)、鉻 (Cr) 和金屬中的其他有毒元素進(jìn)行了優(yōu)化、塑料和混合材料。它提供的檢測(cè)限完全在大多數(shù)材料的典型監(jiān)管限制范圍內(nèi)。它不僅可以在零售地點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試,還可以在裝貨碼頭和制造現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)試,以便在進(jìn)口/出口玩具、珠寶、服裝、電子產(chǎn)品和其他消費(fèi)品出現(xiàn)問題之前對(duì)其進(jìn)行篩查。
合規(guī)濃度限制
元素 RoHS/WEEE 消費(fèi)品/CPSIA
鎘 <100 ppm 不適用
Cr Cr6+ <1000 ppm 不適用
汞 <1000 ppm 不適用
鉛 <1000 ppm <100 ppm
Br PBB PBDE <1000 ppm 不適用
特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)
>可靠和增強(qiáng)的用戶體驗(yàn)
操作簡(jiǎn)單明了。一個(gè)物體直接放置在分析窗口上,或者如果很小,則固定在樣品架/杯中以對(duì)其進(jìn)行定向。室門關(guān)閉,操作員按“開始”獲取結(jié)果。小光點(diǎn)準(zhǔn)直器用于非常小的物體或物體上的小區(qū)域。對(duì)象的數(shù)字圖像可以以報(bào)告格式存儲(chǔ)和/或與分析結(jié)果一起直接發(fā)送到打印機(jī)
好處
>>限制元素的快速無損檢測(cè)
>> LOD 低至 1 ppm 的準(zhǔn)確度
>>安全的閉束XRF系統(tǒng)
>>USB接口用于高速數(shù)據(jù)導(dǎo)出、打印
>>快速、準(zhǔn)確、先進(jìn)的技術(shù)
>>50 瓦 X 射線管,1000 μA 電流(最大值),加上優(yōu)化的光束設(shè)置以進(jìn)行準(zhǔn)確分析
>>數(shù)字多通道分析儀提供快速可靠的結(jié)果,只需幾秒鐘
>>智能程序,可在 3 秒內(nèi)自動(dòng)將樣品類型分類為塑料、鐵、黃銅、錫或鋁基體
>>集成攝像頭記錄分析圖像
>>對(duì)于小樣品或樣品上的小區(qū)域,小光斑準(zhǔn)直低至 0.5mm
>>具有工廠校準(zhǔn)的用戶友好和高度智能的程序
>定制化認(rèn)證報(bào)告
EDX8000B PC 報(bào)告軟件可定制并促進(jìn)即時(shí)報(bào)告生成,包括分析結(jié)果、定性樣品信息、光譜信息和樣品圖像??勺匪莸奈臋n使 EDX8000B 成為 RoHS 合規(guī)工具的理想工具。
EDXRF用作未知樣品RoHS合規(guī)性分析的快速掃描和篩選工具。 EDX8000B 將監(jiān)管推薦的 XRF 技術(shù)與多種增值功能相結(jié)合,為 RoHS 合規(guī)性分析提供理想的工具,通過無縫集成數(shù)據(jù)和結(jié)果,提供經(jīng)濟(jì)的運(yùn)營(yíng)成本、空間和時(shí)間。
EDX8000B XRF 分析儀采用符合人體工程學(xué)且可靠的軟件包,通過易于使用的報(bào)告軟件提供準(zhǔn)確、靈敏的分析。 它提供了對(duì)大多數(shù)材料的典型監(jiān)管限制范圍內(nèi)的限制檢測(cè)。 作為 RoHS 合規(guī)應(yīng)用的快速篩選工具,EDX8000B 無人能及。
為了滿足客戶日益更為嚴(yán)苛的測(cè)試需求,特別是對(duì)微量痕量元素測(cè)試靈敏度和穩(wěn)定性的更高標(biāo)準(zhǔn),英飛思ESI全新開發(fā)了升級(jí)版EDX8000B---RoHS符合性XRF檢測(cè)光譜儀。相較于基礎(chǔ)版本的Si-pin硅針檢測(cè)器,EDX8000B裝備了最高端的SDD硅漂移檢測(cè)器。更高的樣品X光能量數(shù)據(jù)通量,更好的光譜分辨率,使得檢測(cè)性能提高了2-3倍。
EDX8000B的優(yōu)勢(shì):
?更快---由于單位時(shí)間內(nèi)可以獲得更高樣品信號(hào)通量,使得測(cè)量時(shí)間大幅減少。100秒即可達(dá)到普通版本儀器200秒的測(cè)量效果
?更準(zhǔn)---獨(dú)特的多道分析器DPP可實(shí)現(xiàn)超過100,000 cps的線性計(jì)數(shù)速率而同時(shí)保證最優(yōu)的光譜分辨率,通常優(yōu)于130 eV(普通Si-pin探測(cè)器為160eV),以更好地分離不同元素的光譜。同時(shí),強(qiáng)大的基于Windows的FP(基本參數(shù)算法)軟件降低了基體元素間吸收增強(qiáng)效應(yīng),并同時(shí)考慮到不同基體對(duì)光譜強(qiáng)度變化的干擾,把測(cè)試準(zhǔn)確度提高到了新的水平
?更穩(wěn)---使用超大面積25 mm2鈹窗SDD檢測(cè)器(普通Si-pin檢測(cè)器6mm2),該款檢測(cè)器可在相同樣品激發(fā)條件下獲得2-3倍于普通檢測(cè)器的光譜強(qiáng)度(計(jì)數(shù)率CPS),從而得到更好的測(cè)試穩(wěn)定性和長(zhǎng)期重復(fù)性。與傳統(tǒng)的Sipin版本臺(tái)式儀器相比,EDX8000B光譜儀可以全功率運(yùn)行,因此實(shí)現(xiàn)了更為穩(wěn)定和可靠的測(cè)試表現(xiàn)